Универсальный прибор для сверхточной пайки, исследования примесей, качества напылений, большое рабочее пространство позволяет наблюдать крупные образцы, к примеру геологические породы.

Микроскоп подойдёт для сверхточной пайки плат, исследованию монет и марок, для ювелирных целей, для исследования напылений и срезов геологических пород.

Первоклассный микроскоп для сверхточной пайки плат, исследования примесей в поверхностях и напылениях. Лучший подарок любому радиолюбителю и компьютерному мастеру.

Регулирование расстояния между зрачками, диоптрическая корректировка ±5, прецизионная фокусировка. Прозрачный диск держателя образца, противопыльный чехол. Адаптирован для фотографирования.

Точная оптическая система. Наклон окуляров относительно вертикальной оси 45°. Оборотность микроскопа относительно основания 360°. Микроскоп обеспечивает четкое стерео изображение широкой площади обзора. XTX-2B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий. Благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

XTX-2B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Бинокулярный микроскоп XTX-3B с поворотным 2Х/4Х увеличительным объективом на штативе и эргономичной подставкой. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси 45°. При вращении объектива на 180° возможны два положения регулировки увеличения 2X/4X, обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора. XTX-3B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси 45°. При вращении объектива на 180° возможны два положения регулировки увеличения 2X/4X, обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора. XTX-3B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Микроскопы, обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора.XTX-6A применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Бинокулярный микроскоп XTX-6C с поворотным 2Х/4Х увеличительным объективом на штативе. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси.

Бинокулярный микроскоп XTX-6C с поворотным 2Х/4Х увеличительным объективом на штативе. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси.

Бинокулярный микроскоп ST-D-P с поворотным 2-4-кратными увеличительным объективом на штативе. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси 45°. При вращении объектива на 180° возможны два положения регулировки увеличения 2X/4X , обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора. ST-D-P применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Бинокулярный микроскоп ST60-24B2 с поворотным 2Х/4Х увеличительным объективом на штативе. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси 45°. При вращении объектива на 180° возможны два положения регулировки увеличения 2X/4X , обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора. Бинокулярный микроскоп ST60-24B2 применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.