Микроскоп весьма профессиональный и подходит для большинства наблюдательных операций. Отличный выбор для весьма широкого круга задач, от биологии, до ремонтной мастерской.

Стереоскопический микроскоп Levenhuk 3ST с увеличением 20х и 40х - это профессиональный инструмент для специалистов разных сфер: ювелиров и археологов, геологов и биологов, подойдет он и для ремонта микроэлектронники.

Универсальный прибор для сверхточной пайки, исследования примесей, качества напылений, большое рабочее пространство позволяет наблюдать крупные образцы, к примеру геологические породы.

Микроскоп подойдёт для сверхточной пайки плат, исследованию монет и марок, для ювелирных целей, для исследования напылений и срезов геологических пород.

Первоклассный микроскоп для сверхточной пайки плат, исследования примесей в поверхностях и напылениях. Лучший подарок любому радиолюбителю и компьютерному мастеру.

Универсальный прибор для сверхточной пайки, исследования примесей, качества напылений, большое рабочее пространство позволяет наблюдать крупные образцы, к примеру геологические породы.

Регулирование расстояния между зрачками, диоптрическая корректировка ±5, прецизионная фокусировка. Прозрачный диск держателя образца, противопыльный чехол. Адаптирован для фотографирования.

Может быть использован как профессиональный прибор для изучения структуры поверхностей и мелких деталей непрозрачных предметов, поскольку оснащён качественным объективом

Бинокулярный микроскоп XTX-2A с поворотным 2Х увеличительным объективом на штативе. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси 45°. Микроскоп обеспечивает четкое стереоизображение в широкой области обзора. XTX-2A применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Точная оптическая система. Наклон окуляров относительно вертикальной оси 45°. Оборотность микроскопа относительно основания 360°. Микроскоп обеспечивает четкое стерео изображение широкой площади обзора. XTX-2B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий. Благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

XTX-2B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Бинокулярный микроскоп XTX-3B с поворотным 2Х/4Х увеличительным объективом на штативе и эргономичной подставкой. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси 45°. При вращении объектива на 180° возможны два положения регулировки увеличения 2X/4X, обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора. XTX-3B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси 45°. При вращении объектива на 180° возможны два положения регулировки увеличения 2X/4X, обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора. XTX-3B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Микроскопы, обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора.XTX-6A применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Бинокулярный микроскоп XTX-6C с поворотным 2Х/4Х увеличительным объективом на штативе. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси.