Мікроскопи XTX XTX series

Бінокулярний мікроскоп XTX-2A з поворотним 2Х збільшувальним об'єктивом на штативі. Точна оптична система з нахилом окулярів щодо вертикальної осі 45 °. Мікроскоп забезпечує чітке стереозображення в широкій області огляду. XTX-2A застосовується в електроніці і точному машинобудуванні для збірки і огляду виробів; завдяки високій роздільній здатності мікроскоп застосуємо для дослідження об'єктів з нерівною поверхнею.

Точна оптична система. Нахил окулярів щодо вертикальної осі 45 °. Оборотність мікроскопа щодо заснування 360 °. Мікроскоп забезпечує чітке стерео зображення широкої площі огляду. XTX-2B застосовується в електроніці і точному машинобудуванні для збірки і огляду виробів. Завдяки високій роздільній здатності мікроскоп застосуємо для дослідження об'єктів з нерівною поверхнею.

XTX-2B застосовується в електроніці і точному машинобудуванні для збірки і огляду виробів; завдяки високій роздільній здатності мікроскоп застосуємо для дослідження об'єктів з нерівною поверхнею.

Бінокулярний мікроскоп XTX-3B з поворотним 2Х / 4х збільшувальним об'єктивом на штативі і ергономічною підставкою. Точна оптична система з нахилом окулярів щодо вертикальної осі 45 °. При обертанні об'єктива на 180 ° можливі два положення регулювання збільшення 2X / 4X, що забезпечують чітке стереозображення в широкій області огляду. XTX-3B застосовується в електроніці і точному машинобудуванні для збірки і огляду виробів; завдяки високій роздільній здатності мікроскоп застосуємо для дослідження об'єктів з нерівною поверхнею.

Точна оптична система з нахилом окулярів щодо вертикальної осі 45 °. При обертанні об'єктива на 180 ° можливі два положення регулювання збільшення 2X / 4X, що забезпечують чітке стереозображення в широкій області огляду. XTX-3B застосовується в електроніці і точному машинобудуванні для збірки і огляду виробів; завдяки високій роздільній здатності мікроскоп застосуємо для дослідження об'єктів з нерівною поверхнею.

Мікроскопи, що забезпечують чітке стереозображення в широкій області обзора.XTX-6A застосовується в електроніці і точному машинобудуванні для збірки і огляду виробів; завдяки високій роздільній здатності мікроскоп застосуємо для дослідження об'єктів з нерівною поверхнею.

Бінокулярний мікроскоп XTX-6C з поворотним 2Х / 4х збільшувальним об'єктивом на штативі. Точна оптична система з нахилом окулярів щодо вертикальної осі.

Бінокулярний мікроскоп XTX-6C з поворотним 2Х / 4х збільшувальним об'єктивом на штативі. Точна оптична система з нахилом окулярів щодо вертикальної осі.

Бінокулярний мікроскоп XTX-7C-W з поворотним 2-4-кратними збільшувальним об'єктивом на штативі. Точна оптична система з нахилом окулярів щодо вертикальної осі 45 °. При обертанні об'єктива на 180 ° можливі два положення регулювання збільшення 2X / 4X, що забезпечують чітке стереозображення в широкій області огляду.