Бинокулярный микроскоп XTX-2A с поворотным 2Х увеличительным объективом на штативе. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси 45°. Микроскоп обеспечивает четкое стереоизображение в широкой области обзора. XTX-2A применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Точная оптическая система. Наклон окуляров относительно вертикальной оси 45°. Оборотность микроскопа относительно основания 360°. Микроскоп обеспечивает четкое стерео изображение широкой площади обзора. XTX-2B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий. Благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

XTX-2B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Бинокулярный микроскоп XTX-3B с поворотным 2Х/4Х увеличительным объективом на штативе и эргономичной подставкой. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси 45°. При вращении объектива на 180° возможны два положения регулировки увеличения 2X/4X, обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора. XTX-3B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси 45°. При вращении объектива на 180° возможны два положения регулировки увеличения 2X/4X, обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора. XTX-3B применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Микроскопы, обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора.XTX-6A применяется в электронике и точном машиностроении для сборки и осмотра изделий; благодаря высокому разрешению микроскоп применим для исследования объектов с неровной поверхностью.

Бинокулярный микроскоп XTX-6C с поворотным 2Х/4Х увеличительным объективом на штативе. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси.

Бинокулярный микроскоп XTX-6C с поворотным 2Х/4Х увеличительным объективом на штативе. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси.

Бинокулярный микроскоп XTX-7C-W с поворотным 2-4-кратными увеличительным объективом на штативе. Точная оптическая система с наклоном окуляров относительно вертикальной оси 45°. При вращении объектива на 180° возможны два положения регулировки увеличения 2X/4X , обеспечивающие четкое стереоизображение в широкой области обзора.